CIMD晶体测试系统
COM-1晶片测试仪

本型号用于测试石英晶体谐振器谐振频率和电参数,由计算机控制进行自动测量。可以测量串联谐振频率/电阻、负载谐振频率/电阻、静/动态电容、动态电感、品质因数和频率牵引度。系统具有存储测试文件和测试数据、判别被测晶体是否合格和打印测试结果等功能。中文界面。

频率范围:1MHz~75MHz。

频率测量误差:串联谐振频率小于±2ppm。

电阻测量误差:串联谐振电阻小于±10%(或2Ω)。

激励功率可调范围:0.1~2mW(1~40MHz),0.3~1mW(40~75MHz)。控制误差<±0.m1W。

测量时间:0.2~0.8秒(取决于测量参数多少)。

本测试仪是由微电脑控制,具有内部计数器及显示器的用于石英晶体谐振器半成品(白片,晶片)谐振频率的专用仪器。可在1MHz~30MHZ的频率范围内测量晶片谐振频率和活力的相对值,并且可以在预置目标频率和分档间隔后显示晶片频率偏差,方便按谐振频率分档。

测试范围:1~30MHZ。

测试精度:内置频率计测量误差<±20ppm。

活力测量:谐振电阻相对值,分五档显示。

分档:11档,指示灯显示。

分选间隔:1~40KHz可调。

频率显示:6位。

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